蓝桥杯基础练习 之 芯片测试

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

 

算法分析：

原来做这题时，竟没想到上面说好芯片比坏芯片多这个条件，查看了别人的算法才注意到这个方面。。。

因为好芯片比坏芯片多，所以，每一个芯片与其它芯片n个比较时，只要测试的结果大于或等于n/2  就能证明这是好芯片，然后把芯片所在位置输出来即可。。。

 

算法实现：

import java.util.Scanner;
public class Main {
    public static int n;
    public static int[][] arr;
    public static void main(String[] args) {
        Scanner scanner = new Scanner(System.in);
        n = scanner.nextInt();
        arr = new int[n][n];
        for (int i = 0; i < n; i++) {
            for (int j = 0; j < n; j++) {
                arr[i][j] = scanner.nextInt();
                if(i == j){
                    arr[i][j] = 0;
                }
            }
        }
        for (int j = 0; j < n; j++){
            int s = 0;
            for (int i = 0; i < n; i++){
                if(i != j){
                    s += arr[i][j];               
                }
            }
            if (s >= n/2)
                System.out.print((j+1)+" ");
        } 
    }

}