[SILVACO ATLAS]a-IGZO薄膜晶体管二维器件仿真(06)

在知网看到了江南大学的硕士论文:

双有源层a-IGZO薄膜晶体管的特性仿真

IGZO/IZO双有源层薄膜晶体管特性的模拟研究

发现,我昨天的文章中参数的设置存在重大失误,如下材料定义语句中:

material material=igzo eg300=3.5 nc300=8.5e21 nv300=8.5e21 taun0=1e-9 taup0=1e-9 affinity=4.35 mup=1 mun=35

eg300:禁带宽度

nc300/nv300:effective density of states for electrons and holes

taun0/taup0:electron and hole lifetimes(载流子寿命)

affinity:电子亲和势

mup/mun:electron and hole mobilities(两种载流子的迁移率)

上述已在(04)中提到过,然而对于nc与nv:

对于特定材料而言应为定值...吧?

上图为文献中给出的模拟参数。材料定义更改为下:

material material=igzo eg300=3.5 nc300=5e18 nv300=5e18 taun0=1e-9 taup0=1e-9 affinity=4.16 mup=0.1 mun=15

输出:

其次,defect语句的引入还存在问题,我还以为引入缺陷越多,电流就会越高,实则不然。语句内各个参数定义并未完全理解,还需进一步查找资料。

 啊啊啊啊啊啊啊啊啊啊

原文地址:https://www.cnblogs.com/kraken7/p/12275687.html