基础练习 芯片测试

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问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

 

需要思考技巧

提交代码

#include<iostream>
#include<vector>
using namespace std;
//author: Qiang
int main(){
    int n;
    cin>>n;
    int s[n][n];
    vector<int>obj;
    for(int i=0;i<n;i++){
        for(int j=0;j<n;j++){
            cin>>s[i][j];
        }
    }
    for(int i=0;i<n;i++){
        int p1=0,p2=0;
        for(int j=0;j<n;j++){
            if(s[j][i]==1)p1++;
            else p2++;
        }
        if(p1>p2){
            obj.push_back(i+1);
        }
    }
    vector<int>::iterator it;
    for(it=obj.begin();it!=obj.end();it++){
        cout<<*it<<" ";
    }
    return 0;
}