DDR中寄存器的问题

图中虚线是自动跳转,实线是通过发送命令才能跳转的。

下面是框中对应的命令。

ACT = ACTIVATE       

MPR = Multipurpose register     

MRS = Mode register set
PDE = Power-down entry

PDX = Power-down exit             

PREA = PRECHARGE ALL
PRE = PRECHARGE         

READ = RD, RDS4, RDS8             

ZQCL = ZQ LONG CALIBRATION
REF = REFRESH         

SRE = Self refresh entry             

ZQCS = ZQ SHORT CALIBRATION

RESET = START RESET    

WRITE = WR, WRS4, WRS8         

PROCEDURESRX = Self refresh exit

WRITE AP = WRAP, WRAPS4, WRAPS8                                                    

READ AP = RDAP, RDAPS4, RDAPS8

 状态图:

Start-Up : Power on -> Reset Procedure -> Initialization -> ZQ Calibration -> IDLE

READ : idle -> Activating -> (Bank Active) -> Reading -> Precharging ->idle

Write :idle -> Activating -> bank active -> writing -> precharging ->idle

Refresh : idle -> Refreshing ->idle

Self-refresh : idle -> self-refresh ->idle

ZQ Caliration : idle -> ZQCL/ZQCS ->idle

Leveling : idle -> MRS,MPR,Write Leveling -> idle

Power Down :

复位(Reset)

复位是异步复位,当拉低后要保持100ns,在些期间输出会被禁止,ODT被关闭(处于高阻)。

在RESET#拉高之前CKE应该拉低,当RESET拉高之后,DRAM必须要重新初始化。所有的

计数器—除刷新计数器外,都会复位,当RESET拉低之后 ,DRAM中存储的数据,也变为不

确定值。

操作中需要注意的点:

(1)   复位拉低要保持100ns;

(2)   在RESET#拉高之前CKE要保持低电平不变;

 初始化(Initialization)

ZQCL: 上电初始化后,用完成校准ZQ电阻。ZQCL会触发DRAM内部的校准引擎,

一旦校准完成,校准后的值会传递到DRAM的IO管脚上,并反映为输出驱动和ODT阻值。

ZQCS: 周期性的校准,能够跟随电压和温度的变化而变化。校准需要更短的时间窗口,

一次校准,可以有效的纠正最小0.5%的RON和RTT电阻。

MRS (mode register set)

MODE Register Set, 模式寄存器设置。为了应用的灵活性,不同的功能、特征

和模式等在DDR3芯片上的Mode Register中,通过编程来实现。模式寄存器MR

没有缺省值,因此模式寄存器MR必须在上电或者复位后被完全初始化,这样才

能使得DDR可以正常工作。正常工作模式下,MR也可以被重新写入。模式寄存

器的设置命令周期tMRD就两次操作的最小时间。MRS命令要求所有bank处于

idle状态,并且MRS只能在precharged状态下进行。

模式寄存器,分为MR0、MR1、MR2和MR4。

MR0用来存储DDR3的不同操作模式的数据:包括突发长度、读取突发种类、CAS长度、测试模式、DLL复位等。

MR1用来存储是否使能DLL、输出驱动长度、Rtt_Nom、额外长度、写电平使能等。

MR2用来存储控制更新的特性, Rtt_WR阻抗,和CAS写长度。

MR3用来控制MPR。

• BA2 = 0, BA1 = 0, BA0 = 0 for MR0
• BA2 = 0, BA1 = 0, BA0 = 1 for MR1
• BA2 = 0, BA1 = 1, BA0 = 0 for MR2
• BA2 = 0, BA1 = 1, BA0 = 1 for MR3

 MPR寄存器

MPR: Multi-purpose register. 多用途寄存器。MPR的功能是读出一个预先设定

的系统时序校准比特序列。为了使能MPR功能,需要在MRS的寄存器MR3的A2

位写1,并且在此之前需要将DDR3的所有bank处于idle状态; 一旦MPR被使能后,

任何RD和RDA的命令都会被引入到MPR寄存器中,当MPR寄存器被使能后, 除非

MPR被禁止(MR3的A2=0),否则就只有RD和RDA被允许。在MPR被使能的时候,

RESET功能是被允许的。

Precharge Power Down: bank在in-progress命令后关闭。

Active Power Down:bank在in-progress命令后依然打开。

 

 

Self refresh temperature(SRT)

当disable,手动更新的速率是以85度为标准的,并且要求器件的温度不能超过85

个人感觉这里面有三个概念要搞清楚,(自刷新)self refresh ,(自动刷新)ASR和SRT。

当ASR和SRT均未开开启时就是self refresh模式,self refresh的刷新频率为1x,它是按

照在85T内的正常温度范围内来刷新,如果温度超过85T,在85T~95T扩展温度范围,就

只能开启ASR或SRT,SRT开启之后就是按2x的刷新频率来刷新,而ASR是根据温度范

围来决定刷新的频率,如果在正常温度范围则为1x,如果是扩展温度范围则为2x。

但要注意,SRT 和 ASR不能同时开启。

有这样一句话:自动刷新用于正常操作模式 ,在自动刷新时 ,其他命令无法操作。

自刷新主要用于低功耗状态下的数据保存 。

ODT(On-Die Termination)

动态ODT是DDR3新增加的功能有,DDR3的新动态ODT特性具有针对不同的负载条件

优化终结电阻值的灵活性,这样可以改善信号完整性,它还提供了管理终结功耗的一种

方法。动态ODT使DDR3器件能无缝地改变针对不同模块发出的“WRITE”命令之间的终

结电阻值。该特性是DDR2系统所不能提供的,在同一个器件上,DDR2需要总线空闲时

间来改变终结电阻值。

在DLL Disable Mode模式下是不支持ODT(NOM ODT和动态ODT)的,在DLL Disable Mode下

ODT管脚必须要拉低,RTT,nom MR1[9, 6, 2] 和 RTT(WR) MR2[10, 9]也要设置为0。

ODT分为常规ODT(NOM ODT)和动态ODT两种模式,分别对应Rtt_Nom和Rtt_WR两种终端值。

当ODT在模式寄存器中设置使能之后—无论是Rtt_Nom还是Rtt_WR,并把ODT管脚拉高,DRAM

将会终结 DQS, DQS#, DM, 和所有的DQ. 对于TDQS使能的x8 DRAM,TDQS和TDQS#也会被终结。

      要使能Rtt_WR并非必须使能Rtt_Nom,两都是相互独立的,如果禁止Rtt_Nom使能Rtt_WR,DRAM只会在写操作时终结相应信号,

注意区分几个参数。

Rtt、Rtt.nom和Rtt(wr),, RTT(EFF)。

四个状态:使能(enabled),禁止(dsiabled),打开(turn on)和关闭(turn off)。

 

下图是一个简单框图。

NOM ODT

RTT,nom取值是由MR1[9, 6, 2]来决定的。从下图中可以看出RTT,nom可以取2.4.6.8.12,RZQ是240Ω。如果RTT,nom应用在写操作过程中,。

 

常规的ODT(NOM ODT)可以用在备用(standby conditions)或者写操作中,Rtt_Nom用在写操作中,只能取RZQ/2, RZQ/4, 和 RZQ/6。但是在DDR3的读操作中不是能用终结电阻的。

 

动态ODT

动态ODT只应用于写周期,在Rtt_Nom 和 Rtt_WR均使能的情况下,DRAM会在写操作命令时把Rtt_Nom切换到Rtt_WR,当写突发完成后又会切换回Rtt_Nom,在终结阻值的切换过程是不需要MR寄存器去设置的。

Synchronous ODT

什么是同步ODT?

在self refresh模式或者在MR1与MR2中disable掉ODT时ODT管脚的电平被忽略。

当ODT (RTT_nom)无效时,ODT (RTT_nom)值是高阻Z。

      使能动态ODT只能应用在写周期,并且在write leveling mode下不可用。动态ODT与ODT可以相互独立使用。

 

同步ODT参数。

 

 

原文地址:https://www.cnblogs.com/zhongguo135/p/8483346.html