ATPG——自动测试pattern生成
Fault——电路或系统中可能会或不会导致系统故障的物理缺陷
Fault Model——表示物理缺陷影响的逻辑模型
一、Fault Model
1、stuck-at fault model
2、At-speed fault model
两种类型：
| Transition fault model | Standard Transition Delay Model |
| Small Delay Defect Model | |
| Path Delay fault model | Setup Time Fault |
| Hold Time Fault |
Transition Delay Testing
fault与library cell相关；每个节点都有一个缓慢上升/缓慢下降的点；目标点缺陷
Path Delay Testing
故障与path相关；目标路径通常包括“关键”路径；针对流程缺陷
3、其他fault model
Bridging(static、Dynamic)
IDDQ
etc
二、scan pattern
施加一个stimulus并检查预期response以检测目标故障的一个或多个向量的序列。
例子：
