Channel1 在enable状态下,使用UEID-A校验成功,使用UEID-B校验失败;
Channal1 在enable状态下,使用UEID-A校验失败,使用UEID-B校验成功;
Channal1 在enable状态下,使用UEID-A校验成功,不使用UEID-B校验;
Channal1 在enable状态下,不使用UEID-A校验,使用UEID-B成功;
Channal1 在enable状态下,使用UEID-A校验成功,使用UEID-B校验成功;?
Channal1 在enable状态下,使用UEID-A校验失败,使用UEID-B校验失败;?
其他Channel照此法操作。
上面的feature体现了DUT在接受(实质上正确和错误的)输入数据时,分别遍历UEID-A和UEID-B相关的算法路径和硬件资源,遍历了pass和fail的相关算法路径和硬件资源,都能够得出与c-model一致的结果。
归根结底,vPlan中的feature to test要体现design的设计初衷!