分享测试测量技术研讨会资料集锦，好的话请点赞

测试测量技术研讨会资料集锦，大家感觉资料不错的请点赞：

一. 《成功实现低电平直流测量的技巧》(适于进行低电平测试的初学者)：

-定义“低电平测量”

-识别需要低电平测量的熟悉的应用场景

-识别影响结果和讨论解决方案的常见挑战

http://seminar.eepw.com.cn/seminar/show/id/158

二.《用4线法分析材料电阻率和测试结构》(适于对材料和测试结构进行四线电阻率测量的工程师、材料研究人员、研究实验室、物理学家、高等院校和公司)：

电阻率是材料的基本特性，也属于常规电气测量。但是，一些应用要求采用4线方法。而且，所用的测量方法取决于材料电阻大小、样品厚度和样品形状与大小等各种因素。本期在线研讨会详细说明了能获得最佳测量结果的各种4线方法和测量技术。

http://seminar.eepw.com.cn/seminar/show/id/132

三.《高功率半导体器件测试的要点、技巧和陷阱》(本期研讨会面向掌握了MOSFET、BJT、IGBT、二极管和晶闸管等多端半导体器件测试基础知识的工程师。还适合于在使用高功率测试此类器件方面有经验的工程师。)：

1.如何检测并抑制器件振荡;

2.如何配置仪器并实现100A高脉冲电流的准确测量;

3.如何利用吉时利高功率数字源表的新功能验证测量仪器的脉冲IV测量设置;

4.如何在确保操作人安全，做好仪器和设备防护的同时进行高电压击穿和漏电流测量;

5.如何确保正确接地并且对多台台式仪器或机架式仪器建立共同参考源。

http://seminar.eepw.com.cn/seminar/show/id/102