如何检测 51单片机IO口的下降沿

下降沿检测,说白了就是满足这样一个逻辑,上次检测是1,这次检测是0,就是下降沿。
从这个条件可知,要确保能够正确检测到一个下降沿,负脉冲的宽度,必须大于一个检测周期,当负脉冲宽度小于一个检测周期,就有可能产生漏检。另一方面,要正确检测逻辑1,同样要求高电平持续时间大于一个检测周期。
如果检测是硬件的,比如INT0中断,一个检测周期是一个机器周期,比如1us,那么脉冲信号的宽度就必须保证高电平低电平都大于1us,所以说,检测上限是500K。

如果检测是软件的,比如每1mS检测一次,检测上限就浊500Hz。

sbit   inputPin = P1^0;
 
void main(void )
{
          bit savePinState = inputPin;
          while(1)
          {
                    delay_1T();    //    检测间隔
 
                    bit nowPinState = inputPin;
                    if (( savePinState == 1 ) && ( nowPinState == 0 ))
                    {
                          //    检测到下降沿
                    }
                  savePinState = nowPinState;    //    这句是重点,保存当前的状态,下次再检测这就是"上次状态"
         }
}

原文地址:https://www.cnblogs.com/alan666/p/8312382.html